所属分类:Tester
发布时间:2023-09-23
双存储体ECR,跨所有通道实现800Mbps
高达1024个数字通道可用于并行测试
可应用于存储器NOR闪存/NAND闪存/SRAM/DEAM/MEMsSOC 微控制器/低端SOC/转换器产品测试
地址:上海市临港新片区飞渡路66号6幢
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